新的X射线技术将噪声转换为数据

美国能源部国家实验室的日报科学技术（记者Liu Xia）。这种将实验噪声转换为有价值数据的新方法可以完全改变人类对电子运动的观察的显微镜观点，并促进多个领域（例如化学）的发展。结果最近发表在《自然》杂志上。使用世界上最强大的XFEL XFEL激光的独特性能，研究人员允许S-SXRS技术捕获内部电子结构的令人惊讶的图像及其在前所未有的分辨率中的相互作用。在实验过程中，当XFEL XFEL脉冲发射DEL GAS霓虹灯时，该仪器记录的拉曼信号延长了约10亿次。拉曼信号的“ X射线数字足迹”特种类似于原子的“标识卡”，它清楚地揭示了有关激发态的电子结构的信息。与Trad不同需要在不同的能级之间进行缓慢扫描的ITINICANT方法，新技术可以构建完整的电子能谱，分析仅通过整合多个快照瞬时快照而产生的输入脉冲与拉曼信号之间的相关性。使用这种方法，研究人员在飞秒（第二秒的十亿秒）中获得了电子运动的“冷冻图像”。研究人员解释说，不仅有许多X射线脉冲增加了信号的力量，而且还使最初想象成有价值的数据资源的噪声来对协方差技术进行统计分析。这种方法不仅实现了分辨率的定性飞跃，而且还将观察速度提高到了一个全新的维度。计算机模拟的结果与实验数据非常一致，并提供了一个可靠的模型来了解X光片与物质之间的相互作用。 S-SXR的申请的观点技术非常广泛。从化学键骨折的明显奥秘和形成的谜团来指导具有特殊特性的新材料的设计。发展纳米技术的促进性，直到电子制造创新。此外，随着技术的持续优化，S-SXR有望成为全球研究所的“标准配置”，在跨学科研究中注入创新的活力。